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FIB載網
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聚焦離子束專用載網。通過FIB或SEM/FIB系統對樣品進行處理。載網上的齒針為樣品提供良好的支撐,下部的編號在TEM下可準確定位樣品。
Omniprobe® Short-Cut™ 載網 Omniprobe® Short-Cut™ 載網專用于FIB。厚度為200μm。45°專用于FEI,26.5°專用于ZEISS及JEOL。材質為Cu或者是在銅表面噴鍍厚度為1μm的鉬已降低分析應用時銅產生的信號
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